[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置

摘要

本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括装置本体，所述装置本体的内侧顶面设置有测试探针，且测试探针的下方设置有载物台，所述载物台的顶面开设有测试槽；本实用新型中，通过转动双向丝杆任意一端的手轮，促使双向丝杆表面的两个螺纹套相向移动，使得两个螺纹套对应焊接的限位板相向夹持在待测试芯片的两侧，实现待测试芯片的居中放置和限位，有利于测试探针的检测，而通过转动螺纹杆，促使支撑柱沿着螺纹杆移动，进而支撑柱底端的滑块沿着装置本体内侧面的滑槽滑动，使得支撑柱带动载物台水平移动，实现测试槽内芯片在水平方向的调整，有利于芯片水平方向上多个测试点的测试。