[实用新型]智能芯片性能检测机构有效
| 申请号： | 202021849666.1 | 申请日： | 2020-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN213240414U | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 刘静;吴正 | 申请（专利权）人： | 芯冠（苏州）半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 苏州睿昊知识产权代理事务所(普通合伙) 32277 | 代理人： | 沈彬彬 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及检测设备的技术领域，特别是涉及一种智能芯片性能检测机构，其通过设置，节省人力检测和记录，提高检测的效率；包括检测箱、隔板、蓄电池、中央处理器、故障标记存储模块、L型板、第一螺栓、电动推杆、检测头、滑块和固定台，检测箱内设有空腔，隔板固定安装在检测箱内，蓄电池底端和隔板顶端固定连接，中央处理器底端和隔板顶端固定连接，蓄电池和中央处理器电连接，故障标记存储模块底端和隔板顶端固定连接，中央处理器和故障标记存储模块电连接，L型板顶端和隔板底端通过第一螺栓螺装连接，电动推杆右端和L型板左端固定连接，电动推杆顶端和隔板底端固定连接，电动推杆的输出端和检测头固定连接，检测头和中央处理器电连接。 | ||
| 搜索关键词： | 智能 芯片 性能 检测 机构 | ||
【主权项】：
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