[实用新型]一种芯片测试座有效
| 申请号: | 202021692917.X | 申请日: | 2020-08-14 |
| 公开(公告)号: | CN212410778U | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
| 发明(设计)人: | 邓佳佳 | 申请(专利权)人: | 成芯半导体(江苏)有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 盐城平易安通知识产权代理事务所(普通合伙) 32448 | 代理人: | 陈彩芳 |
| 地址: | 212400 江苏省镇*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本实用新型涉及充电设备领域,且公开了一种芯片测试座,包括测试座本体,所述测试座本体的上端设置有支撑板,所述支撑板的外表面设置有竖向连接口,所述支撑板的一侧设置有固定结构,所述固定结构包括固定轴、转动管、上连接板、弹簧、下连接板、拉动板和限位块,所述支撑板的一侧设置有防尘外壳,所述防尘外壳的一侧外表面设置有竖向连接条,所述防尘外壳的下端设置有横向连接条。该芯片测试座,具备较为灵活方便的完成对芯片在测试座上的压紧固定,同时能够满足对一定范围大小或不同形状的芯片进行测试的需求,解决了测试座在不使用时长时间暴露于空气中沾染灰尘的问题,从而在芯片测试领域带来更好的使用前景。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 芯片 测试 | ||
【主权项】:
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