[实用新型]一种用于集成电路自动测试机的小电流量测校准架构有效

专利信息
申请号: 202021470834.6 申请日: 2020-07-23
公开(公告)号: CN213210440U 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 张经祥;魏津;徐润生 申请(专利权)人: 胜达克半导体科技(上海)有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙) 31293 代理人: 王圣
地址: 201799 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种用于集成电路自动测试机的小电流量测校准架构,包括直流校正板、电压表以及外部控制系统;直流校正板与集成电路自动测试机连接,形成一通路,通路上串联有基准电阻;电压表与基准电阻并联,用于测量基准电阻两端的电压;外部控制系统分别与数字万用表和集成电路自动测试机电信号连接,其用于向集成电路自动测试机发生测试信号使得集成电路自动测试机进行测试状态,同时获取并处理电压表发出的信号,得到电流实测值,并对电流实测值进行补偿,得到电流输出值。本实用新型,克服了现有技术磁场干扰导致数值失真的缺陷,通过引入基准电阻并测量电压实现集成电路自动测试机的小电流的准确量测;结构简单,成本低廉,应用前景好。
搜索关键词: 一种 用于 集成电路 自动 测试 流量 校准 架构
【主权项】:
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