[实用新型]一种便于取放的调光膜通电老化测试装置有效

专利信息
申请号: 202021353768.4 申请日: 2020-07-11
公开(公告)号: CN212568888U 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 周龙平;李彬 申请(专利权)人: 扬州晶彩光电科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/00
代理公司: 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 代理人: 刘计成
地址: 225000 江苏省扬州市高新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种便于取放的调光膜通电老化测试装置,包括测试架、温度传感器和单片机,所述测试架的内壁上螺栓固定有温度传感器,且测试架顶部的内侧螺栓固定有单片机,所述测试架的后侧轴连接有把手,且把手的一端贯穿测试架连接有螺杆,所述螺杆轴连接于活动槽内,且活动槽开设于测试架的侧壁上,并且螺杆上螺纹套设有安装架,所述安装架的外侧一体设置有固定承托杆,所述移动槽的内壁与安装架的顶部之间贯穿开设有通槽,所述固定销的一端位于固定槽内,所述测试架后侧的内部开设有风槽内。该便于取放的调光膜通电老化测试装置,对不同规格的调光膜进行批量测试,同时便于调光膜的拿取和存放。
搜索关键词: 一种 便于 调光 通电 老化 测试 装置
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