[实用新型]一种触控芯片电性测试装置有效
申请号: | 202021162443.8 | 申请日: | 2020-06-22 |
公开(公告)号: | CN213210353U | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 李伟;余荣 | 申请(专利权)人: | 上海荣惠笛信息技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 上海宣宜专利代理事务所(普通合伙) 31288 | 代理人: | 邢黎华 |
地址: | 201207 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种触控芯片电性测试装置,包括底座,所述底座的顶部固定连接有工作台,所述工作台的顶部固定连接有滑板,所述滑板的顶部滑动连接有等距排布的多个放置台,多个所述放置台的顶部放置有芯片,所述工作台上设有转动槽,所述转动槽的内壁一侧固定连接有驱动电机,所述驱动电机的输出轴固定连接有第二链轮,所述转动槽的内壁一侧转动连接有相对称的转动轴,两个所述转动轴的一端均固定连接有第一链轮,两个所述第一链轮和第二链轮外侧套设有同一个链条,本实用新型中,通过测试针做上下往复运动,移动板和推动杆自行输送芯片,全过程无需人工操作,既节省劳动力,又提高了工作效率,简单实用。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】:
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