[实用新型]一种测量点位留痕装置有效

专利信息
申请号: 202021105499.X 申请日: 2020-06-16
公开(公告)号: CN212133671U 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 李文鹏;战文;刘星星;吕国浩 申请(专利权)人: 吕国浩
主分类号: G01C15/08 分类号: G01C15/08
代理公司: 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 代理人: 陈月婷
地址: 276800 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型公开了一种测量点位留痕装置,包括空仓,空仓一侧设有外接口;空仓下部设有对丝接口二,对丝接口二下部通过弹簧一连接有压板,压板下部连接有对丝接口一,对丝接口一下部通过弹簧二连接有尖头;压板两侧设有喷口。本实用新型与现有技术相比的优点在于:整体结构简单精巧,不再需要人为用眼标记定位,定位准确,一步到位,结构简单,适应性强,快捷高效,无易损件,提高了工程测量中点位留痕的效率,外形美观大方。
搜索关键词: 一种 测量 点位留痕 装置
【主权项】:
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