[实用新型]一种老化电子模块测试治具有效

专利信息
申请号: 202021053421.8 申请日: 2020-06-10
公开(公告)号: CN213544739U 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 黄永金 申请(专利权)人: 上海康博电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/40;G01R1/04
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 徐俊
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种老化电子模块测试治具,包括测试支架,测试支架内安装有若干个相互平行的测试板,测试板表面均匀设置有条状测试槽,条状测试槽内壁两侧均设置有活动槽,活动槽内部滑动设置有活动滑板,活动滑板靠外一侧连接有弹簧板,弹簧板通过若干个弹簧柱与活动槽内壁一侧连接,活动滑板表面还安装有垂直挡板,垂直挡板顶端还通过铰接座转动连接有按压板,测试支架一侧安装有若干个走线板,走线板与测试板一一对应,走线板上设置有与条状测试槽数量相同的走线孔,走线板外表面安装有电源套管,测试支架的边角处安装有支柱杆,可同时对多个电路板进行电源老化测试,方便调节,能有效的解决背景技术提出的问题。
搜索关键词: 一种 老化 电子 模块 测试
【主权项】:
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