[实用新型]一种光学器件高精度组装检测的预推机构有效
| 申请号： | 202020961263.X | 申请日： | 2020-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN211977861U | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 李小根;胡争光;师利全;罗东;贺天文;张炜;张强 | 申请（专利权）人： | 深圳市鑫三力自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/02 | 分类号： | G01B21/02 |
| 代理公司： | 深圳市中联专利代理有限公司 44274 | 代理人： | 朱以智 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山区坪山街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光学器件高精度组装检测的预推机构，安装在一检测机上的牢固性检测工位处，包括：底座以及安装在所述底座上的：能够驱动产品做XYZ轴向移动的预推组件产品放置平台、设于所述预推组件产品放置平台邻侧且用于对所述预推组件产品放置平台上的产品进行压力测试的预推上下施压测试组件以及用于清洗预推头的下推头清洗组件；所述预推机构还包括控制所述预推上下施压测试组件运行的预推组件控制部。本实用新型的结构检测过程，全自动快速完成，检测稳定性好，洁净度高，检测精度得到保证，大大满足生产的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 器件 高精度 组装 检测 机构 | ||
【主权项】：
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