[实用新型]芯片测试装置

摘要

本实用新型提供一种芯片测试装置。本实用新型提供的芯片测试装置，包括测试电路板和芯片固定机构，芯片固定机构通过在限位板上设置开口容纳待测芯片，并通过设置压紧组件将待测芯片压紧在测试电路板上，使得待测芯片的引脚与测试电路板上的信号顶针电性连接，信号顶针还与测试电路电性连接，如此，待测芯片、信号顶针以及测试电路形成测试回路，实现对待测芯片的测试；并且，测试电路板上信号顶针电性连接待测芯片和测试电路，使得待测芯片和测试电路的距离相对较短，使得待测芯片的位置更接近于实际安装位置，更加真实的模拟芯片的正常工作状态，有利于提高测试的稳定性，进而提高测试的准确度。