[实用新型]一种用于发射箱密封盖薄弱区样件的加载试验装置有效
| 申请号： | 202020714697.X | 申请日： | 2020-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN212621888U | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 陈博;唐泽辉;安昕;张鑫玉;闫承磊;孟宪慧;孟豪宇 | 申请（专利权）人： | 北京玻钢院复合材料有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/02 |
| 代理公司： | 北京力量专利代理事务所(特殊普通合伙) 11504 | 代理人： | 徐颖超 |
| 地址： | 102101 北京市延*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型属于发射箱材料老化性能检验技术领域，具体公开了一种用于发射箱密封盖薄弱区样件的加载试验装置，包括：工装主体，工装主体包括第一平板、第二平板和支撑杆；支撑杆的数量为多个，多个支撑杆的两端分别与第一平板和第二平板连接，且连接之后的第一平板和第二平板相互平行；第一限位部，第一限位部设于第一平板上，适于与发射箱密封盖薄弱区样件的下端连接；第二限位部，第二限位部竖向安装于第二平板上，并可相对于第二平板上下移动；第二限位部适于与发射箱密封盖薄弱区样件的上端连接。通过上述结构的设置，能够模拟发射箱密封盖薄弱区样件的承压状况，从而更好的预测产品在环境因素影响下密封盖薄弱区结构寿命的变化情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 发射 密封 薄弱 样件 加载 试验装置 | ||
【主权项】：
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