[实用新型]一种基于硅与氧化硅叠层的硅振荡器结构有效

专利信息
申请号: 202020651016.X 申请日: 2020-04-26
公开(公告)号: CN212517471U 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 黄向向;杨敏;道格拉斯·雷·斯巴克斯;关健 申请(专利权)人: 罕王微电子(辽宁)有限公司
主分类号: H01P7/06 分类号: H01P7/06
代理公司: 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 代理人: 张晨
地址: 113000 辽宁省抚顺*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种基于硅与氧化硅叠层的硅振荡器结构,包括衬底硅,底层氧化层,中间硅层,中间氧化层,顶层硅层,顶层氧化层,内部电学连接,封堵结构,顶层金属件,空腔结构,谐振器结构;衬底硅作为谐振器的支撑层,底层氧化层为在底层硅上沉积的氧化层;顶层硅层为在中间氧化层上沉积硅薄膜,顶层氧化层为在顶层硅层形成的氧化层,谐振器结构设置在中间硅层上形成谐振器的主体结构部分。本实用新型的优点:采用硅与氧化层叠层结构,氧化物封堵开口技术,CVD淀积W或多晶硅掺杂封堵开口;采用SOI晶圆作为基底,利用光刻、刻蚀工艺,在顶层硅薄膜和中间硅层上刻蚀开口和谐振器图形,是密封单晶硅谐振器的新结构,性能稳定,新工艺和新方法。
搜索关键词: 一种 基于 氧化 硅叠层 振荡器 结构
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