[实用新型]一种剖面密度检测的X射线准直狭缝架及瞄准装置有效

专利信息
申请号: 202020445774.6 申请日: 2020-03-31
公开(公告)号: CN212180658U 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 蔡志宇;杜凯;吴福霖;王秋硕 申请(专利权)人: 武汉功大智控科技有限公司
主分类号: G01N23/02 分类号: G01N23/02;G01T1/16
代理公司: 合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 34158 代理人: 刘跃
地址: 430070 湖北省武汉市洪山区南李路2*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种剖面密度检测的X射线准直狭缝架及瞄准装置,包括固定底板、X射线焦点瞄准微调滑台、准直狭缝架、探测器支架、底座,固定底板的顶端表面安装有高压电源,探测器支架的顶端安装有X射线探测器,准直狭缝架通过沉头内六角螺丝固定在于底座的顶端,X射线焦点瞄准微调滑台的通过杯头内六角螺丝固定于底座的顶端另一侧,X射线焦点瞄准微调滑台的顶端安装有X射线发射器。本实用新型能够保证准两处狭缝处于同一轴线上,可调节的微调滑台可以使射线焦点与狭缝处于同一轴线上,使X射线穿过一侧狭缝后可以准确的穿过另一侧狭缝,减小测量误差保障测量结果的准确性。
搜索关键词: 一种 剖面 密度 检测 射线 狭缝 瞄准 装置
【主权项】:
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