[实用新型]发射通路测试系统有效
| 申请号： | 202020173492.5 | 申请日： | 2020-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN210839588U | 公开（公告）日： | 2020-06-23 |
| 发明（设计）人： | 尹柏林 | 申请（专利权）人： | 上海剑桥科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 胡美强 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种发射通路测试系统，包括依次连接的测试主板、功分器、第一开关、衰减器、第二开关和信号分析仪，通过第一环形器连接于功分器的信号源，以及依次连接于第一开关和第二开关之间的第二环形器和滤波器，测试主板用于发送测试信号至功分器；信号源用于生成干扰信号；功分器用于叠加测试信号和干扰信号；衰减器用于衰减测试主板的功率；滤波器用于滤除测试信号中的主频率而仅传输谐波分量；第一环形器用于单向传输干扰信号；第二环形器用于单向传输测试信号；第一开关和第二开关通过python语言控制；信号分析仪用于分析输出测试结果。通过该测试系统，测试不同类型数据时，不另需人工设置连接仪器，测试效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 发射 通路 测试 系统 | ||
【主权项】：
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