[实用新型]一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测设备有效

专利信息
申请号: 202020089590.0 申请日: 2020-01-16
公开(公告)号: CN211044323U 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 张发恩;郭勅君 申请(专利权)人: 创新奇智(合肥)科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/50;G06T7/12;G06T5/00;G01N21/88
代理公司: 广州鼎贤知识产权代理有限公司 44502 代理人: 刘莉梅
地址: 230000 安徽省合肥市高新区习友路333*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测设备,成衣印花缺陷检测设备的设备外壳上设有一操作区,操作区内设有一缺陷检测结果显示区域,缺陷检测结果显示区域的上方位置处设有一采图按钮,采图按钮用于提供给用户按下后采集待检测的印花样本的曝光图以及采集合格的印花成品的曝光模板图;采图按钮的右侧位置处设有一检测按钮,检测按钮用于提供给用户按下后对所采集的曝光图进行印花缺陷检测,并将印花缺陷检测结果在缺陷检测结果显示区域上显示;缺陷检测结果显示区域的右侧位置处设有一检测状态显示区域,用于将印花缺陷检测的检测状态显示给所述用户,本实用新型实现了对印花缺陷检测的全自动化。
搜索关键词: 一种 基于 曝光 成像 成衣 印花 缺陷 检测 设备
【主权项】:
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