[发明专利]一种用于γ射线能谱计数测量的装置及方法在审
| 申请号： | 202011633926.6 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112782749A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 李高峰 | 申请（专利权）人： | 北京格物时代科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 白晓晰 |
| 地址： | 102600 北京市大兴区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于γ射线能谱计数测量的装置及方法，属于γ射线能谱测量技术领域。本发明装置，包括：放大电路，所述放大电路接收γ射线能量信号，并将所述γ射线能量信号转换为模拟信号；多个测量支路，测量支路接收模拟信号，向逻辑控制控制电路发出转换开始信号，寻找模拟信号峰位并保持峰位的电平，将电平转换位数字信号并输出；逻辑控制电路，所述逻辑控制电路接收转换开始信号，发出转换开始信号延时预设时间，关闭测量支路，开启下一个测量支路；存储电路，接收数字信号，并根据接收的多个测量支路输出的数字信号确定γ射线能谱的计数值。本发明使γ射线能谱计数率得到大幅提高，计数率的限制主要受闪烁体衰减时间的制约。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射线 计数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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