[发明专利]一种相变存储器单元及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202011608134.3 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112635667B 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 钟旻;李铭;冯高明 申请(专利权)人: 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;陈慧弘
地址: 201800 上海市嘉定*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种相变存储器单元及其制备方法,其从下到上依次包括位于衬底上的底电极、相变单元、加热电极和顶电极;其中,相变单元为纵向连接设置于底电极上的柱体,其由内而外依次设置有柱形相变材料层、环形散热层和环形选择器件层;顶电极与加热电极和相变材料层依次连接,环形选择器件层连接底电极。因此,本发明通过采用散热层包覆相变电阻层使电流密度和热量分布更加集中,从而固定相变有效操作区域,使相变电阻层有效区域体积减小,降低了器件功耗;同时,散热层与相变电阻层非有效操作区域的接触面积增大,减小非有效操作区域的热量聚集,降低非有效区域转化为有效区域的可能,提高器件可靠性。
搜索关键词: 一种 相变 存储器 单元 及其 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司,未经上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011608134.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top