[发明专利]一种新型晶体振荡器频率温度稳定度测试装置在审
| 申请号： | 202011600609.4 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112578215A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 于姗姗;罗梦佳;苏霞;彭慧丽;于德江;乔志峰 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 张国虹 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种新型晶体振荡器频率温度稳定度测试装置，该装置包括带盒盖的测试盒、测试电路板和若干晶体振荡器，测试盒内壁上固定有安放测试电路板的支撑块，测试电路板上安装有插装被测晶体振荡器的管簧，每个被测晶体振荡器的上方均设有电源线和压控线的引出端，测试电路板上设有与所有被测晶体振荡器的电源线和压控线相连的汇总端，测试盒上安装有连接测试线和测试电路板的接头，在所述测试盒上设有供电源线和压控线穿出的穿线孔。本发明设带管簧的测试电路板，将电源线、压控线与电路板相连，而非直接与被测晶体振荡器连接，连接更为稳固可靠，减少了线缆软连接引入的噪声干扰，提升了测试可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 晶体振荡器 频率 温度 稳定 测试 装置 | ||
【主权项】：
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