[发明专利]一种非磁性材料光致磁化及超快退磁的检测方法及其装置和应用在审
申请号: | 202011599752.6 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN114690091A | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | 王晓莉;王菲;唐智勇 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 巩克栋 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种非磁性材料光致磁化及超快退磁的检测方法及其装置和应用,将线偏振激光脉冲分为泵浦光路和探测光路两路,然后将所述泵浦光路的线偏振激光脉冲处理得到单一波长的圆偏振泵浦光,将非磁性材料实现带内激发,并将所述探测光路的线偏振激光脉冲处理得到延迟后的具有波谱的圆偏振探测光,用于探测被激发与未被激发的非磁性材料的瞬态光谱,利用自旋选择定则,通过检测具有不同偏振态的圆偏振探测光的瞬态吸收差异反映光致磁化强度,进一步调节所述圆偏振探测光对应的延迟时间Δt,利用所述光致磁化强度的变化情况拟合得到超快退磁弛豫时间,为非磁性材料用于超快光磁开关或超快光控存储提供可能。 | ||
搜索关键词: | 一种 磁性材料 磁化 退磁 检测 方法 及其 装置 应用 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家纳米科学中心,未经国家纳米科学中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011599752.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于PCB线板阻抗值的计算方法
- 下一篇:制冷箱体及制冷设备