[发明专利]一种透射波前相位径向一阶导数的检测装置和方法有效

专利信息
申请号: 202011533647.2 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN112763081B 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 张文丰;王佳;李明喆;李思雨;李党娟;程军霞;谭振坤;王佳超 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02;G06F17/14
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种透射波前相位径向一阶导数的测量方法和装置。所述的方法是:利用圆光栅径向剪切干涉仪,并结合空间滤波方法,分别获取无相位物体扰动的参考莫尔条纹图像和经过相位物体后的透射波前产生的测量莫尔条纹图像;对莫尔条纹图像进行坐标变换、傅里叶变换提取相位和坐标反变换,定量提取出透射波前的相位径向一阶导数。所述装置包括圆光栅径向剪切干涉仪、半圆环形的空间滤波器和二维图像探测器,所述圆光栅径向剪切干涉仪包括两个参数不同的同心圆光栅,两个光栅圆心都在光轴上,且光栅平面之间的距离为偶数Talbot距离。本发明具有瞬时测量、精度高、相位信息提取简单的优点。
搜索关键词: 一种 透射 相位 径向 一阶 导数 检测 装置 方法
【主权项】:
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