[发明专利]一种实现铌酸锂晶体表面导电的制备方法在审
申请号: | 202011525028.9 | 申请日: | 2020-12-22 |
公开(公告)号: | CN112760595A | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 陈志辉;魏骏 | 申请(专利权)人: | 上海复存信息科技有限公司 |
主分类号: | C23C14/02 | 分类号: | C23C14/02;C23C14/18;C23C14/58 |
代理公司: | 上海领洋专利代理事务所(普通合伙) 31292 | 代理人: | 俞晨波 |
地址: | 200000 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种实现铌酸锂晶体表面导电的制备方法,具体方法包括以下步骤,S1化学清洗铌酸锂晶体基片表面;S2,在铌酸锂晶体基片表面生长一层金属薄膜层;S3,将铌酸锂晶体基片放入热处理炉中,在氩气和氢气混合气体气氛中恒温退火处理,退火处理完成后,使铌酸锂晶体基片降温至室温25℃;S4,将铌酸锂晶体基片置于强酸溶液浸泡,然后超纯水冲洗去除表面剩余金属薄膜层,最后甩干铌酸锂晶体基片。本方法可与现有集成电路生产工艺流程及工艺设备结合,适合规模化生产,且各步骤流程化,操作简单方便,安全可靠,并可通过精确调节工艺设备参数,可以精确得到不同表面导电性的铌酸锂晶体表面。 | ||
搜索关键词: | 一种 实现 铌酸锂 晶体 表面 导电 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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