[发明专利]电子黑体材料及电子探测结构在审
| 申请号： | 202011497805.3 | 申请日： | 2020-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN114644330A | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 张科;陈果;柳鹏;姜开利;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | C01B32/05 | 分类号： | C01B32/05;C01B32/15;G01R19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子黑体材料，其为一多孔碳材料层，该多孔碳材料层由多个碳材料颗粒组成，该多个碳材料颗粒之间存在多个微孔，所述碳材料颗粒的尺寸为纳米级或者微米级，所述微孔的尺寸为纳米级或者微米级。本发明进一步提供一种电子探测结构，包括一电子探头以及一电流表，该电流表包括一第一接线柱和一第二接线柱，该第一接线柱与该电子探头电连接，该第二接线柱接地，所述电子探头为所述电子黑体材料。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 黑体 材料 探测 结构 | ||
【主权项】：
暂无信息
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