[发明专利]一种磁存储位元及其制作方法、磁存储器有效

专利信息
申请号: 202011496488.3 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN114649469B 公开(公告)日: 2023-09-26
发明(设计)人: 韩谷昌;张恺烨;哀立波;杨晓蕾;刘波 申请(专利权)人: 浙江驰拓科技有限公司
主分类号: H10N50/80 分类号: H10N50/80;H10N50/10;H10N50/85;H10N50/01;H10B61/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王晓坤
地址: 311300 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请公开了磁存储位元及其制作方法和磁存储器,磁存储位元包括固定层、参考层、隧道层、自由层,自由层包括多个层叠的结构单元,结构单元包括在远离隧道层方向上层叠的铁磁层和氧化物传导层,铁磁层包括在远离隧道层方向上依次层叠的第一磁性层、间隔层、第二磁性层。自由层包括多个结构单元,每个结构单元包括铁磁层和氧化物传导层,即自由层中有多个氧化物传导层与铁磁层的界面,多层界面的各向异性能使自由层维持垂直各向异性,可提升数据保存时间,提高自旋转移矩翻转速度,且降低去磁化场,提高自由层的磁各向异性场,且不影响磁存储位元隧道磁阻;铁磁层又包括第一磁性层、间隔层、第二磁性层,提升自由层的厚度,从而提升数据保存时间。
搜索关键词: 一种 存储 位元 及其 制作方法 磁存储器
【主权项】:
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