[发明专利]一种SiC基异质集成氮化镓薄膜与HEMT器件的制备方法有效

专利信息
申请号: 202011477988.2 申请日: 2020-12-15
公开(公告)号: CN112635323B 公开(公告)日: 2021-12-28
发明(设计)人: 欧欣;伊艾伦;游天桂 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L21/335 分类号: H01L21/335;H01L21/02
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;贾允
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了一种SiC基异质集成氮化镓薄膜与HEMT器件的制备方法,包括获取SiC晶圆;在所述SiC晶圆的Si面上形成SiO2保护层;对所述SiC晶圆进行不同能量的多次氢离子注入;去除所述SiO2保护层;对所述SiC晶圆进行退火处理;在所述SiC晶圆的Si面上形成氮化镓薄膜;在所述氮化镓薄膜的表面制备HEMT器件。本申请的SiC基异质集成氮化镓薄膜与HEMT器件的制备方法通过在SiC衬底中引入富氢层对SiC衬底进行改性,实现利用产业成熟、低成本的高掺杂SiC衬底代替传统昂贵的高纯半绝缘SiC衬底作为氮化镓薄膜外延生长的优良支撑材料,可以在提高器件性能的同时大大降低器件的生产成本。
搜索关键词: 一种 sic 基异质 集成 氮化 薄膜 hemt 器件 制备 方法
【主权项】:
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