[发明专利]一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案

摘要

本发明公开了一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，治具分为通用测试夹具、DUT Cartridge和probe面板，原理是在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT Cartridge上盖对于一些需要测试射频接口的部分进行避位开窗通过RF Probe连接接触，RF Probe固定在Probe面板上，Probe面板上的RF Probe通过RF Cable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器，以上根据DUT的不同和射频接口的不同只需要更换特定的DUT Cartridge和Probe面板即可，屏蔽箱和通用夹具不需要更换，本发明具有成本低，可靠性高，产线维护容易，体积小，无污染，适用范围广等优点。