[发明专利]一种快速获取杂光来源和杂光系数的仿真建模方法有效

专利信息
申请号: 202011464567.6 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112485901B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 李艳杰;钟兴;杨成龙 申请(专利权)人: 长光卫星技术股份有限公司
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00;G06F30/20
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 张伟
地址: 130000 吉林省长*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种快速获取杂光来源和杂光系数的仿真建模方法,包括步骤:在光线追迹软件中建立空间遥感相机模型;设置相机结构的表面属性;在光线追迹软件中建立光源、接收器一和接收器二,光源设置在相机焦面上的待分析视场位置,接收器一设置在物方相应视场位置,接收器二设置在相机的入口外;基于蒙特卡罗光线追迹采样法进行逆向追迹,分别得到接收器一和接收器二上的照度数据;根据照度数据和预设关系确定杂光系数;对杂光的路径进行分析后得到杂光路径。在相机结构散射模型设置正确的情况下,利用本发明的方法在消杂光结构设计阶段可获得定量的效果数据,便于比较分析不同结构的消杂光效果,避免光学遥感系统较强杂光的出现。
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【主权项】:
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