[发明专利]一种单次捕捉光谱测量方法及装置在审
| 申请号： | 202011451055.6 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN112697274A | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 李昂;方闻绩;潘时龙 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种单次捕捉光谱测量方法，将待测光信号分为M路并令其一一对应地通过M个相互之间的光谱传输函数具有低相关性的光谱整形单元，M为远小于所述光谱测量方法的测量精度N的正整数；然后用M个光电探测器对这M个光谱整形单元输出的光信号进行一一对应地光电探测，最后计算出待测光信号的光谱。本发明还公开了一种单次捕捉光谱测量装置。相比现有技术，本发明只需要一次测量即可获得待测光谱，且在保持极高光谱分辨精度的同时，结构得到大幅简化，所需的部件数量极大降低，更有利于实现片上集成。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 捕捉 光谱 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学，未经南京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011451055.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种微孔树脂的深度清洗装置和方法
- 下一篇：一种铅酸蓄电池加液量快速检测工装
