[发明专利]一种薄膜柔性太阳电池串测试匹配系统及其测试匹配方法在审
| 申请号： | 202011419072.1 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112701063A | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 张丹红;孙国瑞;呼文韬;李钏 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十八研究所 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67;H01L51/00 |
| 代理公司： | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人： | 栾志超 |
| 地址： | 300384 天津市滨海*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种薄膜柔性太阳电池串测试匹配系统及其测试匹配方法，所述系统包括：太阳电池串待测平台、红外相机、多自由度机械手、工控机、数据采集器和太阳电池串储存盒。本申请提供的一种薄膜柔性太阳电池串测试匹配系统及其测试匹配方法具有如下有益效果：(1)全程无需人工接触太阳电池串，减少了人工操作带来的多余物，增加了产品可靠性；(2)全程为自动化生产，大幅提升产品的生产效率；(3)通过数据采集系统自动分选，降低人工分选的性能匹配误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 柔性 太阳电池 测试 匹配 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
