[发明专利]一种芯片测试信息展示方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202011415531.9 | 申请日： | 2020-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN112612755B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 江华;张珩;陆毅 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/16 | 分类号： | G06F16/16;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开一种芯片测试信息展示方法、装置、电子设备及存储介质，涉及半导体芯片技术领域，能够克服现有技术中芯片测试数据结构关系凌乱、测试结果不直观的弊端。所述方法包括：加载晶圆上半导体芯片的测试文件；根据测试文件中测试数据对象间的层级关系，以层级结构的形式展示晶圆上半导体芯片的测试数据；按照半导体芯片在晶圆上的坐标，将测试文件中半导体芯片的测试结果信息标示在晶圆图中的对应位置。本发明适用于如何直观清晰呈现芯片测试信息的场景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 信息 展示 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海光信息技术股份有限公司，未经海光信息技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011415531.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录设备、信息再现方法和信息再现设备
- 信息记录装置、信息记录方法、信息记录介质、信息复制装置和信息复制方法
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录设备、信息重放设备、信息记录方法、信息重放方法、以及信息记录介质
- 信息存储介质、信息记录方法、信息重放方法、信息记录设备、以及信息重放设备
- 信息存储介质、信息记录方法、信息回放方法、信息记录设备和信息回放设备
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录装置、信息再现方法和信息再现装置
- 信息终端，信息终端的信息呈现方法和信息呈现程序
- 信息创建、信息发送方法及信息创建、信息发送装置
