[发明专利]球面扫描测试系统的校准方法、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202011391961.1 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN112578327B | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 漆一宏 | 申请（专利权）人： | 深圳市通用测试系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 彭家恩;彭愿洁 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开提供一种球面扫描测试系统的校准方法，测试系统至少包括转台和扫描机构，其中，转台用于带动被测件转动，扫描机构用于带动测试探头作圆弧形扫描运动。校准方法包括：转台转动预设角度，获得转台上至少一个第一定位点的至少三个不同的位置信息，确定为第一定位数据；根据第一定位数据确定转台的转动平面和转动中心的位置，确定为转台坐标系；扫描机构按预设轨迹作圆弧形扫描运动，获得测试探头上至少一个第二定位点的至少三个不同的位置信息，确定为第二定位数据；根据第二定位数据确定测试探头的扫描圆弧的半径和圆心的位置，确定为扫描坐标系；根据转台坐标系和扫描坐标系对测试系统进行校准。 | ||
| 搜索关键词： | 球面 扫描 测试 系统 校准 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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