[发明专利]程序测试方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202011370178.7 | 申请日： | 2020-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN112395203A | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 陈丽萍 | 申请（专利权）人： | 京东数字科技控股股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06N20/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张娜;臧建明 |
| 地址： | 100176 北京市北京经济*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种程序测试方法、装置及存储介质，该方法包括：获取待测试程序的源代码中的输出点的理论数量以及每个输出点的位置信息，将输出点的理论数量和每个输出点的位置信息输入覆盖率预测模型进行处理，得到预测代码覆盖率。本实施例的覆盖率预测模型是根据在线序列的极限学习机OS‑ELM训练得到的用于预测代码覆盖率的模型，通过该模型可快速、准确地获取一段待测试程序的代码覆盖率，无需运行整个待测试程序，预测的实时性好，为测试人员提供可靠的理论指导。 | ||
| 搜索关键词： | 程序 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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