[发明专利]一种高温测试PCIe链路信号的方法、设备、介质及装置在审
| 申请号： | 202011353081.5 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN112527576A | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 杨茁 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 | 代理人： | 王新爱 |
| 地址： | 215124 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高温测试PCIe链路信号的方法，包括检测待测主板温度，测试出待测主板中初始温度下PCIe链路的眼图；设定加温范围和温度阈值；通过加温模块对待测主板进行逐级升温，当待测主板温度超过温度阈值时，加温模块停止加热并报警；进行逐级升温过程中，每次升温时，测试出待测主板中PCIe链路的眼图，得到若干温度下PCIe链路的眼图；根据初始温度PCIe链路的眼图和若干温度下PCIe链路的眼图计算PCIe链路的温度范围；通过上述方式，本发明能够在测试某条链路时能够针对性的测试，并在链路出现问题时能够更准确的定位问题位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高温 测试 pcie 信号 方法 设备 介质 装置 | ||
【主权项】：
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