[发明专利]一种基于温度的场强检测装置及方法有效
| 申请号： | 202011349852.3 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN112505455B | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 卢毅;王书渊;程养春;杨擎柱;薛文祥;王辉;郑一博;高岩峰;张旭;王馨;范硕超;陈原;徐党国;秦逸帆;张吉飞;苏斌;刘敏 | 申请（专利权）人： | 国网冀北电力有限公司电力科学研究院;华北电力科学研究院有限责任公司;国家电网有限公司;国网冀北电力有限公司;华北电力大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/12;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 周达;刘飞 |
| 地址： | 100045 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本说明书实施例提供一种基于温度的场强检测装置及方法。所述装置包括正电极、负电极，由所述正电极和负电极夹持的测试材料，连接正电极和负电极的电压调节器，分别设置在所述正电极和负电极上的温度调节器和连接负电极的局放检测器；所述测试材料中放置有场强探针；所述场强探针对应有预设击穿场强；所述场强探针在对应的场强在达到所述预设击穿场强时产生局部放电现象；所述电压调节器用于调节所述正电极和负电极之间的电压；所述温度调节器用于调节所述正电极和负电极的温度；所述局放检测器用在所述场强探针被击穿时检测所述局部放电现象。上述装置，可以在所调整的测试温度下获取对应于预设击穿场强的加持电压，确定了温度对于场强的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 温度 场强 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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