[发明专利]基于多层PCA高斯过程的微带天线物理尺寸提取方法有效

专利信息
申请号: 202011343115.2 申请日: 2020-11-26
公开(公告)号: CN112487713B 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 陈学志;田雨波;高婧;张天亮 申请(专利权)人: 江苏科技大学
主分类号: G06F30/27 分类号: G06F30/27;G06F30/17;G06V10/771;G06K9/62
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 常虹
地址: 212003*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于多层PCA高斯过程的微带天线物理尺寸提取方法,包括:1、构建样本集;2、构建微带天线物理尺寸提取模型;3、采用样本集对微带天线物理尺寸提取模型进行训练;4、对待设计的微带天线的S曲线进行q点采样,构成q维S采样点向量Xd,将Xd与训练样本的S采样点向量组合为矩阵M′,将矩阵M′输入到训练好的微带天线物理尺寸提取模型中,得到待设计的微带天线的尺寸参数向量。该方法对微带天线进行逆建模,建立微带天线S曲线与物理尺寸参数之间的映射,从而能够根据微带天线的S曲线直接快速地预测出天线的物理尺寸参数。
搜索关键词: 基于 多层 pca 过程 微带 天线 物理 尺寸 提取 方法
【主权项】:
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