[发明专利]基于多层PCA高斯过程的微带天线物理尺寸提取方法有效
申请号: | 202011343115.2 | 申请日: | 2020-11-26 |
公开(公告)号: | CN112487713B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 陈学志;田雨波;高婧;张天亮 | 申请(专利权)人: | 江苏科技大学 |
主分类号: | G06F30/27 | 分类号: | G06F30/27;G06F30/17;G06V10/771;G06K9/62 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 常虹 |
地址: | 212003*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于多层PCA高斯过程的微带天线物理尺寸提取方法,包括:1、构建样本集;2、构建微带天线物理尺寸提取模型;3、采用样本集对微带天线物理尺寸提取模型进行训练;4、对待设计的微带天线的S曲线进行q点采样,构成q维S采样点向量X |
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搜索关键词: | 基于 多层 pca 过程 微带 天线 物理 尺寸 提取 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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