[发明专利]一种无源阵列天线波束扫描特性的测试方法有效
| 申请号： | 202011334764.6 | 申请日： | 2020-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN112505434B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 明章健;刘浩;黄文涛;燕军;张再庆;张重阳;魏寅生 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R29/08 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 郑浩 |
| 地址： | 230088 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种无源阵列天线波束扫描特性的测试方法，涉及雷达和天线测试技术领域，解决如何实现电大尺寸无源阵列天线波束扫描特性的快速、高效测试的问题；测试方法基于平面近场测试系统，将数字阵列雷达波束合成技术应用到无源阵列天线测试中，利用多通道开关和矢量网络分析仪替代数字阵列雷达的有源通道和数字接收机，利用平面近场扫描架、多通道开关、矢量网络分析仪协同控制一个探头，配以时序控制和采集，通过一次平面近场扫描获得各个天线单元近场幅度和相位数据，再通过数字波束合成方法计算扫描波束近场数据，通过近‑远场变换得到无源阵列天线波束扫描特性；一次平面近场扫描，可获得无源阵列天线不同工作频率下任一波束扫描特性，测试效率成倍提高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 无源 阵列 天线 波束 扫描 特性 测试 方法 | ||
【主权项】：
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