[发明专利]一种用于半导体量子计算的应变纯化硅衬底及其形成方法在审
| 申请号: | 202011321947.4 | 申请日: | 2020-11-23 |
| 公开(公告)号: | CN112582257A | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
| 发明(设计)人: | 王桂磊;亨利·H·阿达姆松;孔真真;罗雪 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人: | 武悦 |
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种用于半导体量子计算的应变纯化硅衬底及其形成方法,属于半导体技术领域,用以解决现有技术中外延纯化硅受衬底自然硅同位素成分的影响较大、纯化硅的电子迁移率较低的问题。本发明的纯化硅锗衬底包括依次层叠的自然硅支撑衬底、绝缘层、纯化硅锗层和纯化硅层。本发明的形成方法为在基础衬底上外延形成多层硅锗缓冲层和纯化硅锗层,得到施主衬底;提供一自然硅支撑衬底;在施主衬底和/或自然硅支撑衬底上形成至少一层绝缘层;将施主衬底与自然硅支撑衬底键合,去除基础衬底和多层硅锗缓冲层或去除基础衬底、多层硅锗缓冲层和部分纯化硅锗层,得到纯化硅锗衬底;在纯化硅锗衬底上外延形成纯化硅层,得到应变纯化硅衬底。本发明的纯化硅锗衬底及其形成方法可用于半导体量子计算。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 半导体 量子 计算 应变 纯化 衬底 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





