[发明专利]一种虚像距测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202011308205.8 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN112763186A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 何芳 申请(专利权)人: 塔普翊海(上海)智能科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201800 上海市嘉*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种虚像距测量系统及方法,涉及近眼显示技术领域,包括一近眼显示光学系统和一第二镜头元件,所述近眼显示光学系统的第一光轴与所述第二镜头元件的第二光轴垂直相交;一分光元件,设置于所述第一光轴和所述第二光轴的相交点;一拍照装置,设置于所述第一光轴上,所述分光元件位于所述近眼显示光学系统和所述拍照装置之间;一参考物体,设置于所述第二光轴上,所述第二镜头元件位于所述分光元件与所述参考物体之间。有益效果是简化了虚像距的测量过程,同时简化了设备对软件、算法和硬件上的要求,操作简单,同时保证较高的测量精度,能够满足虚拟显示设备和增强现实设备等近眼显示系统的虚像距测量需求。
搜索关键词: 一种 虚像 测量 系统 测量方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于塔普翊海(上海)智能科技有限公司,未经塔普翊海(上海)智能科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011308205.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top