[发明专利]一种应用于测试芯片的测试工具在审
申请号: | 202011296151.8 | 申请日: | 2020-11-18 |
公开(公告)号: | CN112416676A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 石含映;李泽民;钟峰;杨亚明 | 申请(专利权)人: | 上海磐启微电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F3/041;G06F3/0488 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 党蕾 |
地址: | 200120 上海市浦东新区中国(上海)自由*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种应用于测试芯片的测试工具,其中,包括:一上位机;一测试板,通讯连接上位机,并通过一预定的通讯模式连接一待测试的触摸屏模组的控制芯片;测试板用以下载来自上位机的测试程序,并根据上位机的控制指令对控制芯片进行测试。有益效果:通过测试板下载上位机的测试程序,并根据上位机的控制指令对触摸屏模组的控制芯片进行测试,无需重新修改测试程序,再次下载到控制芯片内,从而提高工程师的调试效率,降低工人的测试难度,以及提高工人的测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 应用于 测试 芯片 工具 | ||
【主权项】:
暂无信息
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