[发明专利]空间极高精度指向测量仪器在杂光条件下的光线选择方法有效
| 申请号： | 202011269978.X | 申请日： | 2020-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN112504452B | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 李玉明;王立;武延鹏;郑然;程会艳;吕伟振;钟俊;王子寒;隋杰;王晓燕;李晓;孙秀清;周昊;严微;齐静雅 | 申请（专利权）人： | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 褚鹏蛟 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 空间极高精度指向测量仪器在杂光条件下的光线选择方法，在微弱恒星和强杂光同时进入星敏遮光罩后，首先通过杂光的偏振特性进行初步杂光抑制；进而通过合适的AOE自适应光学组件对需求光线的方向进行自主选择；之后结合不同源光线的光谱特性差异进行调制选通，最终将感兴趣的光线引入到超大满阱CMOS图像探测器进行探测成像，得到强散射杂光环境下的高信噪比恒星目标。试验验证结果表明，相对于传统探测成像方式，本光线选择方法的恒星探测灵敏度提升2Mv，遮光罩尺寸减少60％，为产品在杂光条件下的指向测量精度的提升奠定基础。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 极高 精度 指向 测量 仪器 条件下 光线 选择 方法 | ||
【主权项】：
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