[发明专利]缺陷检测方法及检测装置在审

专利信息
申请号: 202011253928.2 申请日: 2020-11-11
公开(公告)号: CN114494103A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 虞斌;赵丽娜;王桂合 申请(专利权)人: 艾聚达信息技术(苏州)有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/73;G06T7/90;G06V10/74;G06V10/764;G06K9/62
代理公司: 北京市立康律师事务所 11805 代理人: 梁挥;孟超
地址: 215000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种缺陷检测方法和缺陷检测装置,其中该方法包括:第一检测步骤:于AOI系统设置一缺陷模板并检测缺陷模板的缺陷类型,得到第一检测结果,若第一检测结果准确,则输出,否则进行第二检测步骤;第二检测步骤:将缺陷模板传输给AI模型,以检测缺陷模板的缺陷类型,得到第二检测结果,并计算AI模型的检测准确率,若第二检测结果准确且检测准确率符合设定阈值,则输出第二检测结果并对AI模型进行训练,若检测准确率小于设定阈值,进行第三检测步骤;第三检测步骤:将缺陷模板传输给复检系统,以将缺陷模板与预设模板进行匹配检测,得到第三检测结果,并计算复检准确率,若复检准确率符合设定阈值,则输出第三检测结果并对AI模型进行训练。
搜索关键词: 缺陷 检测 方法 装置
【主权项】:
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