[发明专利]半导体器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202011247785.4 申请日: 2020-11-10
公开(公告)号: CN112382634B 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 阳涵;徐前兵;黄淑颖 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11519 分类号: H01L27/11519;H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/11565;H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 吕姝娟
地址: 430205 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种半导体器件及其制作方法,该半导体器件包括:衬底;位于所述衬底上的第一堆叠层,所述第一堆叠层包括上选择栅极层;沿垂直于所述衬底的第一方向贯穿所述第一堆叠层、且在平行于所述衬底的第二方向排列的多个第一虚拟沟道结构,所述第一虚拟沟道结构在所述上选择栅极层中相互连通形成一切槽,用于将位于所述切槽两侧的所述上选择栅极层隔断开;沿所述第一方向贯穿所述第一堆叠层、且位于所述第一虚拟沟道结构两侧的多行存储串,从而无需额外通过传统的TSG切割工艺在上选择栅极层中形成切割结构,简化了工艺流程。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制作方法
【主权项】:
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