[发明专利]凸轮轴上被测对象的采样位姿修正与轮廓形貌测量方法有效

专利信息
申请号: 202011247233.3 申请日: 2020-11-10
公开(公告)号: CN112414352B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 周森;倪颖倩;陶磊;陈龙;周进;郝森 申请(专利权)人: 重庆市计量质量检测研究院
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01B21/24
代理公司: 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 代理人: 周玉玲
地址: 401121*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了凸轮轴上被测对象的采样位姿修正与轮廓形貌测量方法,第一次修正:将凸轮轴坐标系o0x0y0z0转换到仪器坐标OXYZ内;第二次修正:将凸轮轴中心轴线平移到被测对象中心点处,以保证仪器测头能够对被测对象进行正常采样,使得仪器测头能够在仪器坐标系内相对于平移后的凸轮轴中心轴线进一步修正采样位姿;第三次修正:计算被测对象相对于凸轮轴坐标系中的参考基准面的夹角偏差,根据所述夹角偏差将被测对象坐标系转换到仪器坐标系,使得仪器测头能够在仪器坐标系内相对于被测对象的轮廓修正采样位姿。修正采样位姿后获取采样数据并拟合出相应的轮廓形貌。本发明解决了在仪器坐标下下采样路径与被测对象真实轮廓曲线不匹配的问题。
搜索关键词: 凸轮轴 上被测 对象 采样 修正 轮廓 形貌 测量方法
【主权项】:
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