[发明专利]一种用于透射电镜原位观察位错滑移迹线的样品制备方法在审
| 申请号： | 202011236377.9 | 申请日： | 2020-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN112577797A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 李阁平;韩福洲;袁福森;张英东;穆罕穆德.阿里;郭文斌;任杰;刘承泽;顾恒飞 | 申请（专利权）人： | 中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/32;G01N23/20008 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人： | 张晨 |
| 地址： | 110015 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种透射电镜观察分析样品的制备方法，具体地指一种用于透射电镜原位观察位错滑移迹线的样品制备方法，具体步骤为：样品切割与处理；表面抛光；维氏硬度加载；减薄及后续观察分析。本发明试样的制备相对简单，不需要高精密的仪器设备；采用本发明方法，可以准确确定加载力的方向和大小，原位确定压痕附近的滑移迹线的特征；借助透射电镜不仅可以观察位错滑移迹线特征，而且通过压痕定位达到原位观察分析材料在外加载荷作用下位错滑移迹线特征，从而达到原位研究材料的微观变形的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 透射 原位 观察 滑移 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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