[发明专利]一种基于微元化物理模型的电缆寿命预测方法在审
| 申请号： | 202011180585.1 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112446136A | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 张嘉伟;冯凯;付庚 | 申请（专利权）人： | 西安理工大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F113/16;G06F119/04 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 杨洲 |
| 地址： | 710048*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： |
本发明提供了一种基于微元化物理模型的电缆寿命预测方法，将电缆试样分别在90℃、110℃和130℃下进行热老化实验，在不同老化时间下取样测量其断裂伸长率保留率数值，再将实验所得数据代入建模方程，得到不同的t0和v值，对t |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 微元化 物理 模型 电缆 寿命 预测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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