[发明专利]一种结构损伤识别方法及系统在审
| 申请号： | 202011146867.X | 申请日： | 2020-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN112378958A | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 艾德米;黎赫东;朱宏平 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01N27/02;G06F17/16 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种结构损伤识别方法及系统，利用阻抗仪采集与待识别主结构上各测点相连的各测点处的压电导纳信号，采用随机矩阵进行线性变换生成各测点处压电导纳信号相应的观测向量，并基于压缩感知理论分别对各测点处的观测向量进行压缩感知表示，分别基于各测点处压电导纳的观测向量的压缩感知表示采用凸优化理论求解稀疏解，并基于所得稀疏解对各测点处的压电导纳信号进行恢复，最后与基线工况下恢复完成后的压电导纳信号进行对比，计算各测点处当前工况下导纳信号的谐振峰值点的幅值竖向偏移指标、谐振频率水平偏移指标以及RMSD指标，对当前工况下的主结构进行损伤识别；该方法损伤识别结果较为准确，能够有效识别结构的不同损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 损伤 识别 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学，未经华中科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011146867.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
