[发明专利]大气颗粒物密度测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 202011144085.2 申请日: 2020-10-23
公开(公告)号: CN112378813B 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 高建民;张雪岭;赵超龙;俞晓涛;卢美娟;樊海春;张涛 申请(专利权)人: 天津同阳科技发展有限公司
主分类号: G01N9/02 分类号: G01N9/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 300384 天津市西青区天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种大气颗粒物密度测量装置及方法,该大气颗粒物密度测量装置包括采样单元,包括旋风切割器和主路采样管;除湿单元,与主路采样管连接;颗粒物体积测量单元,与除湿单元连接,用于测量大气颗粒物的体积;以及振荡天平质量传感器单元,与颗粒物体积测量单元连接,用于测量大气颗粒物的质量。本发明实现了基于光散射粒径谱和振荡天平方法的颗粒物密度连续测量;采用设定不同流量来控制切割器切割粒径范围,实现对特定粒径范围采样;采用不同粒径范围的交替测量,实现了对特定粒径区间范围的颗粒物密度的精确测量。
搜索关键词: 大气 颗粒 密度 测量 装置 方法
【主权项】:
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