[发明专利]一种电子元器件外观测试装置在审
| 申请号： | 202011087818.3 | 申请日： | 2020-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN112295948A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 陈伟;徐勇;叶建国;韩宙 | 申请（专利权）人： | 江阴亨德拉科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36;G01D21/00;G01N21/84;G01N27/9093 |
| 代理公司： | 江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙) 32380 | 代理人： | 曹键 |
| 地址： | 214400 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元器件外观测试装置，包括底板，所述底板上设置有自前至后依次布置的外观检测机构、涡流检测机构和分料机构，所述外观检测机构和涡流检测机构的上方设置有抓料机构，所述抓料机构用以将产品抓送至外观检测机构中进行外观检测，并将外观检测之后的产品抓送至涡流检测机构中进行性能检测，所述分料机构用以将性能检测之后的产品进行分类收集。本发明一种电子元器件外观测试装置具有减小外观测试误差、提高工作效率、降低人工成本的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 外观 测试 装置 | ||
【主权项】：
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