[发明专利]一种集成电路测试设备有效
| 申请号： | 202011087405.5 | 申请日： | 2020-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN112213626B | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 杜驾麟 | 申请（专利权）人： | 杜驾麟 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367 | 代理人： | 蒋路帆 |
| 地址： | 226000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种集成电路测试设备，包括测试机架、运输导轨、驱动电机、待测集成电路载板、压头、测试机和控制器，所述待测集成电路载板设置在运输导轨上，所述运输导轨与测试机架相连，所述测试机包括探针卡和整理组件，所述整理组件包括第一整理组件和第二整理组件，所述第一整理组件设置在运输导轨的一端，所述压头设置在第一组件的上方，所述探针卡设置在压头的上方，所述第二整理组件和第一整理组件相连，所述第一整理组件和第二整理组件均和控制器相连。本发明中设置有整理组件可以在集成电路板测试过程中对集成电路测试板进行整理和归类，提高了集成电路测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 设备 | ||
【主权项】：
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