[发明专利]光学检测设备与光学检测方法在审
| 申请号： | 202011047647.1 | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN113125343A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 古振男;曹凯翔;张祥毅;李岳龙 | 申请（专利权）人： | 由田新技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张娜;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾新北市中*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学检测设备与光学检测方法，用以检测待测物，光学检测设备包括平台、至少一侧光源、取像单元以及图像处理单元。待测物适于承载在平台上。侧光源提供平行光行经且贴近待测物的至少一表面。取像单元朝向待测物的方向以获取待测物的图像。图像处理单元电性连接取像单元以接收待测物的图像从而评估待测物的表面质量。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
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