[发明专利]一种高分子材料辐射释气评估方法及其应用有效
| 申请号： | 202011047094.X | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112180012B | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 敖银勇;余磊;伍晓利;毛正昊;孟宪福;朱芳锐;黄玮;蹇源 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02;G01N30/06;G01N30/16 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 张晓林 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明所提供了一种高分子材料辐射释气评估方法及其应用，该高分子材料辐射释气评估方法，通过测量高分子材料在低剂量下的辐射释气产率，可快速评估高分子材料在复杂环境下的总辐射释气量。本发明可核电站或太空领域等含复杂辐射场景下高分子材料的辐射释气潜在安全评估，对于装置内的气氛控制具有重要指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高分子材料 辐射 评估 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
暂无信息
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